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产品名称:Bruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜

产品型号:

产品特点:

Bruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜的详细资料:

ruker Multimode 8 DI 第八代多功能扫描探针显微镜

-高分辨扫描探针显微镜的标杆
-搭配快速自动扫描成像技术
-功能更完善,表现更卓.越

 

 

 

 

MultiMode平台是应用较广泛的扫描探针显微镜(SPM),已经在全球成功安装使用了近万套。它的成功基于高分辨率和高性能,多功能性,以及已经得到充分证实的效率和可靠性。现在,MultiMode扫描探针显微镜以其独特的ScanAsyst模式,采用其先进的自动图像优化技术,使得用户不管具备什么技能水平,也能在材料科学,生命科学,聚合物研究领域的研究中较迅速地获得符合要求的研究成果。SPM的控制电路也是影响性能的重要因素,第五代的NanoScope V控制器具有先进的数字架构:具有高数据带宽,低噪声数据采集和高数据处理能力。布鲁克的先进技术已经开创工业上的新标准,例如:ScanAsyst 模式 & PeakForce QNM 模式。Multimode 的加热和制冷装置能对样品进行加热与制冷,适合于生物学,聚合物材料以及其他材料研究应用。采用加热和制冷装置后MULTIMODE 可在零下35°C到250 °C范围内对样品进行温度控制;并可以在水,溶液或缓冲剂的液体环境中进行扫描。当在气体环境下对样品进行扫描时,采用环境控制舱可以在大气压标准下控制环境气体的成分。

 

一、技术参数:

1.显微镜:多种可选Multimode SPM扫描头?
AS-0.5 scanner – 0.4μm x 0.4μm XY and 0.4μm Z range;
AS-12 scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (
非垂直下针)
AS-12VLR scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (
垂直下针)
AS-130VLR scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (
垂直下针) 
AS-12NM scanner – 10μm x 10μm XY and 2.5μm Z range (
非垂直下针) 
AS-130NM scanner – 125μm x 125μm XY and 5μm Z range (
非垂直下针) 
PicoForce scanner – 40μm x 40μm XY and 20μm Z range,
针对 Z 方向闭环力谱应用 
MMAFMXYZ – 100μm x 10μm XY and 15μm Z range XYZ三方向闭环,不推荐在液相中使用

 

 

2. 噪声:垂直(Z)方向上的RMS值<0.3埃 (带防震系统的测量值)
3. 样品大小:直径≤15mm, 厚度≤5mm
4.
针尖/悬臂支架:
● 空气中轻敲模式/接触模式(标准)
●
液体中轻敲模式/力调制(可选) 
●
空气中力调制(可选);
● 电场模式(可选)
●
扫描热(可选-需要大的光学头或者外加的应用组件)
● STM
转换器(可选)
●
低电流STM转换器(可选);接触模式液体池(可选)
●
电化学AFM或STM液体池(可选)
●
扭转共振模式(可选)
5.
防震和隔音:
● 硅胶共振模式(可选)
●
防震三脚架(可选) ;
● 防震台(可选) 
●
集成的防震台和隔音罩(可选)

 

二、主要特点:

1. 高分辨率
2. 出众的扫描能力
3. 优异的可操作性
?4. 非凡的灵活性与功能性
5. 无限的应用扩展性 Multimode可以实现SPM表面表征技术,包括:
● 轻敲模式(Tapping Mode AFM)
●
接触模式(Contact Mode AFM)
●
自动成像模式(ScanAsyst)
●
相位成像模式(Phase Imaging)
●
横向力术模式(laterial Force Microscopy, LFM)
●
磁场力显微术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
●
扫描隧道显微术(Scanning Tunneling Microscopy, STM)
●
力调制(Force Modulation)
● ?
电场力显微术(Electric Force Microscopy, EFM)
●
扫描电容扫描术(Scanning Capacitance Mcroscopy, SCM)
●
表面电势显微术(Surface Potential Microscopy)
●
力曲线和力阵列测量(Force-Distance and Force Volume Measurement)
●
纳米压痕/划痕(Nanoindenting/Scratching)
●
电化学显微术(Electrochemical Microscopy, ECSTM and ECAFM)
●
皮牛力谱(PicoForce Force Spectroscopy)
●
隧道原子力显微术(Tunneling AFM, TUNA)
●
导电原子力显微术(Conductive AFM, CAFM)
●
扫描扩散电阻显微术(Scanning Spreading Resistance Microscopy, SSRM)
●
扭转共振模式(Torsional Resonance mode, TR mode)
●
压电响应模式(Piezo Respnance mode, PR mode)
●
其他更多模式....

 

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